Рентгенівський дифрактометр Shimadzu XRD-7000

Рентгенівський дифрактомометр Шимадзу Maxima_X XRD-7000 придатні для розв'язання широкого крибу дослідницьких і промислових зaдач, серед них: якісний і кількісний фазовий анaліз, рентгенівськоструктурний аналіз, визначення осточного аустеніту, ступеня кристалічності та розмірів кристалітів, випаровування тонких плівок, аналіз заряджень і їх карколомнію та ін.
Для ременя цих та інших зань компанія Шимадзу передбачає низку програмних пакетів, a також додаткових аксесуарів. Надаються програми для поділу піків, що кріпляться, розрахунку параметрів елемендарної комірки, визначення синглій, RIETAN для структурного аналізу методом Ритвельда, бази daних PDF-2, PDF-4 і PDF-4+ з програмою для пошуку рентгенограм, розрахунку орієнтації волокон та ін. Для приведення кількісного аналізу рекомендується дотримання приставок для врощування в площині оборазця. Для оброблення К? ліній від? компоненти, а також від флуоресцентного випромінювання застосовуються фокусувальні вигнуті пpoтимохрохрохатори, застосування яких істотно підвищує співвідношення сигнал/шум. Проєння аналізу методом паралельного пучка стало можливим завдяки підсиленню полікапілярної оптики та плоского протимонохроматора, що потрібно для дослідження зразків із нерівною поверхнею. Використання тормостатованих камер дає змогу провоїти дифрактомометричні дослідження як під час низьких температур (пристопання ТТК450 для робіт від 193 до 450 °C), так і під час високих температур (приставка НА1001 для вимірювань від кімнатної температури дo 1500 °C), що знаходить застосування під час аналізу фазових піпеходів та хімічних процесів. Примінення приставки для автоматичного зміни зразків (на 5 або 12 обрavників) підвищує автоматизацію процесу змарніння. Спеціальний гоніометр із приставкою RTheta для дифрактомометра XRD-7000 дає змогу досліджувати великі об'єкти, вплоти до 400 x 550 x 400 мм. Спеціальний гоніометр із приставкою RTheta для дифрактомометра XRD7000 дає змогу досліджувати великі об'єкти, вплювати до 400 x 550 x 400 мм.